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扫描电子显微技术与X射线显微分析

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作者:[美]J.L.戈尔茨坦等著出版社:北京:科学出版社开本:26cm正文:分类号:R814.4/8页数:454页定价:15.40元ISBN:7-03-000468-X出版日期:1988.01.01
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